光纖光譜儀 SP303
高性能TE冷卻光譜儀
- 科學級高性能
- 極低的暗噪音和雜散光
- 寬動態範圍和高信噪比
- 高紫外線量子效率
- 直接至狹縫或通過光纖的靈活光學輸入
- 從頭開始設計，適用範圍廣泛高速數據采集
- 標準設計允許200-1050nm的光譜範圍
- 黑暗條件下的自動快門
/ 感應器
Hamamatsu S7031-1006 (UV增強塗層) 像素數：1024 x 58感測像素尺寸：24μm X 24μm像素深度：300V Ke-（垂直）660 Ke-（水平）量子效率：>90%@650nm，65% @250nm靈敏度：~0.065counts/e-冷卻：一級TE冷卻 |
暗噪聲RMS： < 2 RMS計數@ 35 毫秒
訊號雜訊比：1000 : 1
光纖耦合器：SMA905 of 標準FC
/波長範圍
全範圍: 200 ~ 1050 nm
UV 範圍: 200 ~ 450 nm
可見光範圍: 380 ~ 760 nm
NIR 範圍: 550 ~ 1050 nm
訂購濾光片：依波長覆蓋範圍安裝長通濾光片或線性可變濾光片
光學解析度：0.3 ~ 7 nm FWHM
雜散光水平：< 0.01% @632 nm (< 0.05% AVG)
電腦介面：相容USB 1.1/2.0 compatible
最短曝光時間：7 ms
觸發模式：自由運行S/W 觸發H/W觸發
作業系統：Window® XP / VISTA / Win7(32 / 64bit) / Win8.1 (32 / 64bit)
SDK 支援：Visual C++ / Visual Basic / LabVIEW
尺寸/重量：173mm X 120mm X 79.8mm / 2.0Kg
