光纖光譜儀 SP642
低噪聲非TE冷卻光譜儀
- 科學級高性能,低成本
- 低暗噪聲和雜散光
- 良好的動態範圍和高信噪比
- 高紫外線量子效率
- 直接至狹縫或通過光纖的靈活光學輸入
- 適用範圍廣泛
- 高速數據采集
- 標準設計允許200-1050 nm範圍
- 黑暗條件下的自動快門
高效能
SP642使用濱松S10420-1106(非TE冷卻FFT CCD探測器,
是紫外/可見光/近紅外光譜分析的理想選擇)。
高信噪比
陣列驅動器電子元件專為高靈敏度和穩定的操作而設計,
信噪比為 450:1。
- 參數
/ 感應器
Hamamatsu S10420-1106(無TE冷卻Backthinned FFT CCD)
像素數: 2048 X 64
感測像素尺寸: 14 μm X 14 μm
像素深度: 200 Ke-
量子效率: >90% @650 nm, 65% @250 nm
暗噪音RMS:< 7 RMS counts @ 35 msec
訊號雜訊比:450 : 1
光纖耦合器:SMA905 of 標準FC
/波長範圍
全範圍: 200 ~ 1050 nm
UV 範圍: 200 ~ 450 nm
可見光範圍: 380 ~ 760 nm
NIR 範圍: 550 ~ 1050 nm
訂購濾光片:依波長覆蓋範圍安裝長通濾光片或線性可變濾光片
光學解析度:0.2 ~ 7 nm FWHM
雜散光水平:< 0.01% @632 nm (< 0.5% AVG)
電腦介面:相容USB 1.1/2.0
最短曝光時間:7 msec
觸發模式:自由運行S/W 觸發H/W觸發
作業系統:Window® XP / VISTA / Win7(32 / 64bit) / Win8.1 (32 / 64bit)
SDK 支援:Visual C++ / Visual Basic / LabVIEW
尺寸/重量:152 mm X 100 mm X 63.6 mm / 1.2 Kg