光纖光譜儀 SP642

低噪聲非TE冷卻光譜儀

  • 科學級高性能,低成本
  • 低暗噪聲和雜散光
  • 良好的動態範圍和高信噪比
  • 高紫外線量子效率
  • 直接至狹縫或通過光纖的靈活光學輸入
  • 適用範圍廣泛
  • 高速數據采集
  • 標準設計允許200-1050 nm範圍
  • 黑暗條件下的自動快門

高效能

SP642使用濱松S10420-1106(非TE冷卻FFT CCD探測器,

是紫外/可見光/近紅外光譜分析的理想選擇)。

高信噪比

陣列驅動器電子元件專為高靈敏度和穩定的操作而設計,

信噪比為 450:1。

/ 感應器

Hamamatsu S10420-1106(無TE冷卻Backthinned FFT CCD)
▶像素數: 2048 X 64
▶感測像素尺寸: 14 μm X 14 μm
▶像素深度: 200 Ke-
▶量子效率: >90% @650 nm, 65% @250 nm

暗噪音RMS:< 7 RMS counts @ 35 msec

訊號雜訊比:450 : 1

光纖耦合器:SMA905 of 標準FC

/波長範圍

全範圍: 200 ~ 1050 nm
UV 範圍: 200 ~ 450 nm
可見光範圍: 380 ~ 760 nm
NIR 範圍: 550 ~ 1050 nm

訂購濾光片:依波長覆蓋範圍安裝長通濾光片或線性可變濾光片

光學解析度:0.2 ~ 7 nm FWHM

雜散光水平:< 0.01% @632 nm (< 0.5% AVG)

電腦介面:相容USB 1.1/2.0

最短曝光時間:7 msec

觸發模式:自由運行S/W 觸發H/W觸發

作業系統:Window® XP / VISTA / Win7(32 / 64bit) / Win8.1 (32 / 64bit)

SDK 支援:Visual C++ / Visual Basic / LabVIEW

尺寸/重量:152 mm X 100 mm X 63.6 mm / 1.2 Kg

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