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數字衰減器

虹科TS-LDA/TS-DAT系列

虹科TS-LDA系列便攜式可編程數字衰減器包括50歐姆和75歐姆雙向步進衰減器,可在高達40GHz的頻帶內工作。這些低成本、便攜式、USB供電的手持式無線測試設備非常適用於工程和生產測試、無線網絡測試、以及集成了高速自動測試設備(ATE)的系統,是在多輸入多輸出(MIMO)和單輸入多輸出(SIMO)無線通信系統(如WiMAX、3G、4G和LTE)中進行無線衰落模擬的最佳選擇。

虹科TS-DAT系列便攜式可編程數字衰減器具有低插入損耗、USB控制和電源、60或90dB最大設置、0.25或0.5dB步長、 範圍從10MHz到30GHz的緊湊型微波數字步進衰 減器。前置OLED顯示屏和用戶控制按鈕標準。

虹科數字衰減器特點

虹科數字衰減器簡單、高性價比、多功能且可靠,覆蓋10MHz到40GHz頻率範圍,步長低至0.1dB。同時提供USB和以太網接口,可通過附帶的圖形用戶界面(GUI)或webUI輕松編程,並提供了LabVIEW驅動程序、Windows API DLL文件、Linux驅動程序和Python示例。

  • 通過USB連接供電和控制
  • 部分型號支持以太網控制
  • 可編程固定或掃頻衰減斜率
  • 全面的Windows和Linux支持庫與大多數軟件開發環境兼容
  • 包括GUI、Windows和Linux SDK、LabVIEW驅動程序
  • 可從GUI或SDK編程的衰減配置文件
  • 可配置的靜態IP或DHCP
  • 尺寸適合ATE應用的單個單元

易於使用的軟件

虹科迷你射頻微波測試設備上位機軟件是無驅動程序的USB HID兼容設備,可以從直觀的Windows圖形用戶界面、以太網網頁或Windows™和Linux™API庫進行操作,這些API支持Python™、C#、C++、matlab™、Java™、Labview™和許多其他編程風格。

廣泛的應用場景

虹科迷你射頻微波測試設備可以廣泛應用於射頻微波測試、產線測試等多種應用場景中,包括:工程/生產測試、MIMO和SIMO測試、WiFi-6和WiFi-6E測試、無線網狀網絡測試、無線衰減模擬、切換測試、5G無線研究和開發、3G和4G無線模擬、自動測試設備(ATE)等。

為什麽選擇虹科數字衰減器

虹科TS-LDA系列


型號 最小頻率(MHz) 最大頻率(MHz) 阻抗(Ω) 通道數 衰減範圍(dB) 步進(dB) 最大輸入(dBm) 插入損耗(dB) 衰減精度(dB) Typ. 切換速度Typ. 控制
TS-LDA-102 6 1000 50 1 63 0.5 22 6 1 70 ns USB
TS-LDA-102-75F 10 1000 75 1 95 0.5 30 5 1 1.5 us USB
TS-LDA-102N 6 1000 50 1 63 0.5 22 6 1 70 ns USB
TS-LDA-133 10 13000 50 1 63 0.5 22 8 1.5 50 ns USB
TS-LDA-203B 1000 20000 50 1 63 0.5 20 6.5 2 350 ns USB/以太網
TS-LDA-302P-1 10 3000 50 1 63 1 33 5 1 2 us USB
TS-LDA-302P-1N 10 3000 50 1 63 1 33 5 1 2 us USB
TS-LDA-302P-2 10 3000 50 1 90 2 33 5 1 2 us USB
TS-LDA-302P-2N 10 3000 50 1 90 2 33 5 1 2 us USB
TS-LDA-302P-H 10 3000 50 1 31.5 0.5 33 5 1 2 us USB
TS-LDA-302P-HN 10 3000 50 1 31.5 0.5 33 5 1 2 us USB
TS-LDA-403 100 40000 50 1 31.5 0.5 0.625 9.5 2 35 ns USB/以太網
TS-LDA-5018V 50 18000 50 1 50 0.1 23 10 1 2 us USB
TS-LDA-602 6 6000 50 1 63 0.5 22 8 1 70 ns USB
TS-LDA-608V-4 200 8000 50 4 60 0.1 23 6 1 15us USB/以太網
TS-LDA-802-12 200 8000 50 12 120 0.1 30 7.5 1 2 us USB/以太網
TS-LDA-802-16 200 8000 50 16 120 0.1 30 7.5 1 2 us USB/以太網
TS-LDA-802-32 200 8000 50 32 120 0.1 30 7.5 1 2 us USB/以太網
TS-LDA-802-8 200 8000 50 8 120 0.1 +25/30 6.5 0.6 2 us USB/以太網
TS-LDA-802EH 200 8000 50 1 120 0.1 +25/30 6.5 0.6 2 us USB/以太網
TS-LDA-802Q 200 8000 50 4 120 0.1 +25/30 6.5 0.6 2 us USB/以太網
TS-LDA-906V 200 6000 50 1 90 0.1 28 5 0.25 15 us USB
TS-LDA-906V-8 200 6000 50 8 90 0.1 28 5 0.25 15 us USB
TS-LDA-908V 200 8000 50 1 90 0.1 23 8.5 0.25 15 us USB/以太網
TS-LDA-908V-4 200 8000 50 4 90 0.1 23 8.5 0.25 15 us USB/以太網
TS-LDA-908V-8 200 8000 50 8 90 0.1 23 8.5 0.25 15 us USB/以太網

虹科TS-DAT系列


型號 頻率苑圍 衰減範圍 最大輸入功率 最小步進值 衰減精度 插入損耗 回波損耗 USB控制 以太網控制
TS-DAT64 10-6000MHz 0-63dB +30dBm 0.5dB 0.5dB 14dB 12dB 標配 不具備
TS-DAT64L
(帶LED顯示)
10-6000MHz 0-63dB +30dBm 0.5dB ±(0.30+3%of Atten.Setting)Max. 14dB 12dB 標配 不具備
TS-DAT90L 10-6000MHz 0-90dB +25dBm 0.5dBm <10dB 標配 可選
TS-DAT64F 100-6000MHz 0-63dB +25dBm 0.25dBm ± (0.10+4%of Atten. Setting)Max. <7dB
>12dB 標配 可選
TS-DAT90F 200-6000MHz 0-90dB +25dBm 0.25dBm <10dB 標配 可選
TS-DAT64H 100-12000MHz 0-63dB +22.0dBm 0.5dB ± (0.30+5%of Atten. Setting) Max dB <10dB >12dB 標配 可選
TS-DAT60KUL 1GHz-22GHz 0-60dB +26.0dBm 0.5dB <10dB >10dB 標配 標配
TS-DAT90KUL 1GHz-22GHz 0-90dB 標配 標配
TS-DAT306K 1GHz–30GHz 0-60dB +28.0dBm 0.5dB ±(0.35+4%of State) <10dB Typical 10dB Typ. 標配 標配

數字衰減器方案

MIMO測試方案

毫米波RIS研究測試方案

WIFI 6E 信道測試方案

應用廣泛

工程/生產測試

Engineering/Production Testing

MiMo和SiSo測試

MIMO & SISO Testing

無線衰落模擬

Wireless Fading Simulation

數字衰減器套裝

5G毫米波收發測試套裝

TSMMTRKIT01

16通道射頻混頻系統

TS12000Q

毫米波雙通道混頻器

TS30000D

課程資源及技術服務

課程資源

射頻微波測試方案

面向覆雜無線電環境的頻譜監測與射頻測試方案

5G/WiFi 6E/FMCW雷達研發和生產測試方案

毫米波RIS測試/材料測試解決方案

技術服務

虹科作為電子測試測量領域的領先解決方案提供商,我們提供全方位的服務,包括培訓服務,項目咨詢與額外技術支持服務,檢測、認證、校準服務,以及集成和二次開發服務。無論您的項目需求覆雜與否,虹科都承諾以最具成本效益的方式助力您實現最高生產力。我們的專業服務體系旨在解決您的每一個挑戰,驅動您的業務邁向卓越。

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